专利摘要显示，本申请提供一种芯片验证方法及装置、芯片验证系统和可读存储介质，涉及集成电路技术领域。本申请通过关联激励输出控制设备获取存在数据关联关系的多种目标测试信号之间的激励字段约束关系，并构建目标激励控制信号，使其包括多种目标测试信号各自的满足该激励字段约束关系的目标激励字段内容，而后建立该关联激励输出控制设备与多种目标测试信号各自对应的目标激励产生设备之间的通信连接，并将构建出的目标激励控制信号发送给各个目标激励产生设备，使每个目标激励产生设备基于自身适配的目标激励字段内容生成目标激励信号后，将其发送给待验证芯片进行芯片功能验证和/或芯片性能验证，以降低激励出错概率，提升芯片验证效率和芯片验证质量。